超聲波測(cè)厚儀檢測(cè)厚度的方法
更新時(shí)間:2026-05-25 點(diǎn)擊次數(shù):142
超聲波測(cè)厚儀探頭直接決定檢測(cè)靈敏度與測(cè)量精度,需結(jié)合試樣厚度、表面形貌、材質(zhì)特性以及檢測(cè)環(huán)境合理選型,具體選型依據(jù)如下。
首先根據(jù)試樣厚度選擇探頭頻率。頻率是選型核心指標(biāo),低頻探頭一般為2~5MHz,超聲波穿透能力強(qiáng)、衰減慢,適用于厚壁、晶粒粗大的試樣,能夠減少聲波損耗;高頻探頭多為5~20MHz,分辨率高、盲區(qū)小,適合薄壁、高精度測(cè)量的試樣,可精準(zhǔn)識(shí)別薄工件底波。
其次依據(jù)被測(cè)面形態(tài)選擇探頭外形。平整光滑的常規(guī)試樣選用標(biāo)準(zhǔn)直平面探頭,貼合性好;彎曲、圓弧類管件試樣需使用曲面專用探頭,避免貼合縫隙造成聲波泄露;狹小檢測(cè)區(qū)域可選用小直徑探頭,適配受限測(cè)量位置。
最后結(jié)合工況與材質(zhì)選型。高溫檢測(cè)環(huán)境必須選用耐高溫專用探頭,防止高溫?fù)p壞探頭元件;粗糙、銹蝕嚴(yán)重的工件可選用耐磨保護(hù)膜探頭,延長(zhǎng)使用壽命;針對(duì)高衰減特殊材質(zhì),應(yīng)搭配高靈敏度探頭,保證回波信號(hào)清晰穩(wěn)定。
